دانشگاه علم و صنعت ایران - School of Physics

دانشکده فیزیک- دکتر محمدرضا جعفرفرد

محمدرضا جعفرفرد

نام و نام خانوادگی: محمدرضا جعفرفرد

مرتبه علمی: استادیار
سمت: مدیرگروه اتمی مولکولی

تلفن: ۹۸۲۱۷۳۲۲۵۸۸۶
داخلی: ۵۸۸۶
فاکس: ۷۷۲۴۰۴۹۷
آدرس پست الکترونیکی: mr_jafarfard ATyahoo.com
آدرس: دانشکده فیزیک، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران،ایران

دانشگاه های محل تحصیل:

دکتری، دانشگاه یان سی (Yonsei)، سئول، کره جنوبی، ۲۰۱۴
کارشناسی ارشد، دانشگاه علم و صنعت ایران، تهران، ایران ۱۳۸۹
کارشناسی، دانشگاه شهید بهشتی، ایران ۱۳۸۷

زمینه های تحقیقاتی:

بیومدیکال اپتیک
میکروسکوپ دیجیتال هولوگرافی

شرح زمینه‌های تحقیقاتی:

ساخت دستگاه‌های اندازه گیری دقیق اپتیکی به طور ویژه ساخت میکروسکوپ سه بعدی دیجیتال هولوگرافی برای اندازه گیری و بررسی سلولهای زنده و اشیا میکرونی

دروس ارائه شده:

مقطع تحصیلات تکمیلی

اپتیک فوریه

مقطع کارشناسی

الکترومغناطیس
اپتیک
اپتیک کاربردی
فیزیک مدرن
فیزیک پایه

مقالات منتشر شده در مجلات و کنفرانس های ملی و بین المللی در ۵ سال اخیر
(مجلات)

Publications (Journals)

Laser back-writing of steel for fabrication of micro-channels on a quartz substrate. S Abbasi, MR Jafarfard, D Razaghi, M Montazerolghaem, H Pazokian. JOSA B ۳۸ (۵), ۱۶۸۴-۱۶۸۸ (۲۰۲۱)
Measurement of wedge and bendig of two faces of the disk laser active medium using a single shot interference pattern. MR Jafarfard, MH Daemi,. Journal of Applied Electromagnetics (۲۰۲۱)
Online measurement of the optical aberrations of a thin-disk laser active medium using the Fourier domain multiplexing method. MR Jafarfard, MH Daemi, S Kazemi. JOSA B ۳۶ (۱۰), ۲۸۸۴-۲۸۸۸(۲۰۱۹)
Characterization of optical fiber profile using dual-wavelength diffraction phase microscopy and filtered back projection algorithm. MR Jafarfard, MH Mahdieh. Optik ۱۶۸, ۶۱۹-۶۲۴(۲۰۱۸).
Compact single-shot four-wavelength quantitative phase microscopy with polarization-and frequency-division demultiplexing. B Tayebi, JH Han, F Sharif, MR Jafarfard, DY Kim. Optics express ۲۵ (۱۷), ۲۰۱۷۲-۲۰۱۸۲(۲۰۱۷).
Double-field-of-view, quasi-common-path interferometer using Fourier domain multiplexing. B Tayebi, F Sharif, MR Jafarfard, DY Kim - Optics express, (۲۰۱۶)
مقایسه ی فرآیند پشت نگاری لیزری در زیرلایه های شفاف شیشه و کوارتز. هدیه پازکیان،داوود رزاقی،محمدرضا جعفر فرد،شبنم عباسی،محسن منتظرالقائم. مجله علوم و فنون هسته ای (۲۰۲۱)