میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM)

میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) دستگاهی است که برای بررسی خواص و ساختارهای سطحی مواد در ابعاد نانومتری به کار می رود.  برخلاف اکثر روش های بررسی خواص سطوح، در این روش غالبا محدودیت اساسی روی نوع سطح و محیط آن وجود ندارد. با این دستگاه امکان بررسی سطوح رسانا یا عایق، نرم یا سخت، منسجم یا پودری، بیولوژیک و آلی یا غیر آلی وجود دارد. خواص قابل اندازه گیری با این دستگاه شامل مورفولوژی هندسی، توزیع چسبندگی، اصطکاک، ناخالصی سطحی، جنس نقاط مختلف سطح،کشسانی، خواص مغناطیسی، بزرگی پیوندهای شیمیایی، توزیع بارهای الکتریکی سطحی و قطبیت الکتریکی نقاط مختلف است. در عمل از این قابلیت ها برای بررسی ویژگی هایی همچون خوردگی، تمیزی، یکنواختی، زبری، چسبندگی، اصطکاک و اندازه استفاده می شود.   کاربردهای دستگاه:    مواد و متالورژی  بررسی مورفولوژی نمونه های مختلف  محاسبه اندازه ذرات مواد پودری  آنالیز ترک ماده تحت بارهای یکنواخت  آنالیز ترک خستگی  بررسی زبری سطحی  مطالعه تریبولوژی سطوح مختلف  صنعت  مهندسی پلیمر و پوشش ها  بازرسی محصولات صنایع ذخیره اطلاعاتی  مورفولوژی سطحی فیلم های پلیمری  بازرسی صنایع میکروالکتریک  اندازه گیری های نانو مکانیکی  کنترل کیفی سطوح پوشش داده شده  بررسی فرآیند پلیمریزاسیون  محیط زیست و علوم غذایی  کاربردهای خاص  بررسی مشخصات نانو فیلترها  نانو لیتوگرافی  بررسی خواص نانو ساختاری ژلاتین  نانو ماشینکاری سطوح سخت سرامیکی  بررسی ساختار مایسل های کازئین و رئولوژی آنها  نانو برشکاری  بررسی نانو ساختار نشاسته و مکانیزم تجزیه آن  بررسی تیزی لبه ابزارهای ماشینکاری دقیق  فیزیک  بررسی صافی سطوح اپتیکی در صنایع نوری  بررسی خواص مغناطیسی این میکروسکوپ دارای مدهای کاری زیر است: Contact Mode Dynamic Mode Tapping Mode Lateral Force Microscopy Magnetic Force Microscopy Electric Force Microscopy Force Spectroscopy Nano- Lithography